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透射电镜分析

一、Hitachi HF5000聚光镜球差校正透射电镜  

  仪器参数 

  加速电压:200kV60kV 

  TEM点分辨率:0.23nm;信息分辨率:0.13nm 

  STEM暗场分辨率:0.078nm@200kV0.204@60kV 

  EDS能谱(双探头)能量分辨率:127eV (Mn Ka)56eV (C Ka) 

  Gatan OneView IS超快速CMOS相机:全像素最大采集速度25/秒,最高读出速度300fps@512512 pixels 

  Gatan 965 GIF Quantum ER能量过滤/电子能量损失谱系统:系统分辨率优于0.5eV@200kV;配备DualEELS功能、空间分辨选区EELS功能(SR-EELS     

  设备功能 

  主要用于无机材料原子尺度的结构和元素表征,仪器的功能包括:  

  电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射  

  成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像 (HREM)、原子分辨STEM (明场(BF)像、高角环状暗场(HAADF)像、环状明场(ABF)像 

  微区成分:可达原子尺度的EDSEELS的点、线和面分析 EELS的能量过滤像 

  二次电子像:样品表面形貌及高分辨成像 

  原位表征:气氛引入原位系统 (MEMS加热样品杆附件:室温~1000°C)     

  应用范围 

  除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材     

  联系方式 

  联系人:卢萍,朱晨曦 

  地址:上海市嘉定区和硕路585E108房间 

  电话:021-69163668 

 

二、JEM-2100F场发射透射电子显微镜

 

  仪器参数: 

  超高分辨极靴 (UHR) 

  点分辨率:0.19nm;线分辨率:0.14nm 

  STEM (HAADF)分辨率:0.20nm 

  最小束斑:0.2nm 

  样品杆最大倾斜角 (XY):  ±25° 

  Oxford能谱仪 (EDS)    能量分辨率:~130eV (MnK线)

               元素范围:5B ~ 92U 

  设备功能: 

  主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究,仪器的功能包括: 

  电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

  成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像) 

  微区成分:EDS能谱的点、线和面分析 

  原位表征:温场下的结构演变 (加热样品杆附件:室温~1000°C) 

  应用范围 

  材料范围:除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;不适用于有机和生物材料 

  表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布 

       晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成 

       结构相变原位研究

  联系方式:

  联系人:姚鹤良,傅正钱

  地址:上海市定西路1295号3号楼105室

  电话:021-52413104

  邮件:linzi5933@mail.sic.ac.cn

 

三、JEM-1400 120kV透射电子显微镜

  仪器参数:

  加速电压:60~120kV可调

  点分辨率:0.38nm;线分辨率:0.20nm

  样品最大倾斜角:?25?

  Oxford能谱仪 (EDS):80mm2探头;5B~92U;能量分辨率:127eV (Mn K?线)

  三维重构:样品杆最大倾角?70?;三维重构App包

  设备功能:

  主要用于无机、有机和生物材料的形貌和组成分析,仪器的功能包括:

  电子衍射、形貌像、组成的EDS能谱分析、形貌的三维重构

  应用范围:

  材料范围:除强磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;有机和生物材料

  表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、化学组成、三维重构等

  联系方式:

  联系人:姚鹤良

  地址:上海市定西路1295号3号楼104室

  电话:021-52413104

  邮件:hlyao@mail.sic.ac.cn

 

四、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜

  仪器参数:

  加速电压:200kV

  高分辨极靴 (S-TWIN)

  点分辨率:0.24nm;线分辨率:0.14nm

  STEM (HAADF)分辨率:0.19nm

  电子束能量色散:<0.7eV

  最大束流:>100nA;1nm束斑最大束流:>0.5nA

  样品最大倾斜角:?40?

  EELS (Gatan Enfina)能量分辨率:0.7eV

  EDAX能谱仪 (EDS):5B~92U;能量分辨率:~130eV (Mn K?线)

  设备功能:

  主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究,仪器的功能包括:

  电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射

  成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像 (HREM)、扫描透射像(明场像、环状暗场像、Z-衬度像)

  微区成分:EELS和EDS能谱的点、线和面分析

  应用范围:

  材料范围:除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;不适用于有机和生物材料

  表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等

  联系方式:

  联系人:张琳琳,朱晨曦

  地址:上海市嘉定区和硕路585号E楼101房间

  电话:021-69163662

  邮件:linzi5933@mail.sic.ac.cn

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