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铁电陶瓷材料与器件课题组
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  课题组拥有完善的功能材料电学性能测试仪器和设备,包括双光束激光干涉仪、偏场热释电性能综合测试系统、PPMS综合物性测量系统、aixACCT TF2000E Analyzer铁电分析仪、等静压下铁电材料极化性能测试系统、宽温宽频介电阻抗谱仪、高温介电温谱测试系统、振动冲击测试系统、TM 3000台式扫描电镜、Panalytical Aeris 台式X射线衍射仪、Keysight E4990A精密阻抗分析仪、Keysight E4980A精密LCR仪表、VT7004高低温实验箱、Keithley6517B静电计等,可对材料在多场(温度、电场及应力)下的介电、铁电、压电、热释电等性能进行测试表征。

双光束激光干涉仪 

采用非接触式非破坏的双光束激光干涉方法实现薄膜的铁电、压电等性能的高分辨率、快动态响应测试。具体功能包括:测试薄膜机电大信号应变、极化、压电系数、小信号介电常数、疲劳和电性能可靠性。 

偏场热释电性能综合测试系统 

自主研制的“偏场热释电性能综合测试系统”,在国内首次实现了偏置电场下热释电材料的热释电系数、介电常数和介电损耗的同步测量,可精确获得热释电材料探测率优值。 

PPMS综合物性测量系统 

可对多种材料的低温强磁场下的交直流磁学、交直流电输运、直流电阻率、介电性能等物性进行高精度的测量。具体测试项目包括:磁化率、电阻率、Hall系数、I-V曲线、介电常数等。 

aixACCT TF Analyzer 2000E 铁电分析仪  

测量薄膜和陶瓷材料的铁电性能、应变性能。 

 

等静压下铁电材料极化性能测试系统 

主研制的等静压下铁电材料极化性能测试系统,可实现铁电陶瓷在0~450MPa等静压和-30~70温度耦合作用下的铁电极化、退极化、介电极化等性能的测试。 

宽温宽频介电阻抗谱仪 

实现0~2000V直流高压,3μHz~20MHz频率范围,-160~ +400温度范围的电容、损耗、电导、电纳、阻抗等参数的测试。 

高温介电温谱测试系统    

测量室温~800的介电性能。 

振动冲击测试系统 

可对压电式加速度传感器灵敏度、频率响应(0.5Hz~20kHz)、共振频率(~50kHz)、冲击极限(20g~10000g)、冲击幅值线性度等性能进行测试。 

PLD 

脉冲激光沉积系统,真空度优于5×10-9mba,衬底最高加热温度900℃(电阻式加热)/1000℃(激光加热),最多容纳61英寸靶(0~50rpm可调),高压RHEED电子枪能量最高可达30 keV(工作气压最高可达0.4 Torr)。 

MSP-400BT型磁控溅射镀膜机 

通过磁控溅射镀膜方式进行镀膜,并支撑直流溅射金属薄膜、射频溅射非金属薄膜功能。系统可制备单层、多层薄膜,最多可同时容纳4种薄膜材料。 

TM 3000台式扫描电镜 

陶瓷及粉体显微形貌表征(< 10000 

 

Panalytical Aeris 台式X 射线衍射仪 

可快速进行物相鉴定和进行粉末样品 Rietveld 分析。设备采用XPert-θ/θ立式测角仪,锐影Empyrean 的技术,配备PIXcel 探测器。 

Keysight E4980A精密LCR仪表 

测量20Hz 2MHz的介电性能。 

高低温实验箱VT7004    

测量-70180的介电性能。 

KEYSIGHT E4990A阻抗分析仪  

测量20Hz120MHz压电、介电性能 

激光粒度分析仪 

本激光粒度分析仪有多种样品分散系统可供选择,测量D50范围0.01μm-2800μm,测量精度0.6%,测量时间10~30 秒,所需样品量0.05~2g 

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